型號：TP-XGL-2

半導體泵浦激光原理實驗系統泵浦激光原理實驗系統

描述：TP-XGL-2型半導體泵浦激光原理實驗系統采用波長為808nm的半導體泵浦源，激光晶體為ND:YVO4以及KTP倍頻晶體等，構成整個實驗系統。主要適用于大學近代物理教學，學生可以自己動手，通過調整激光器光路，觀察倍頻現象，并測量倍頻效率、相位匹配角等參數，從而步了解和掌握激光原理及激光。

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半導體泵浦激光原理實驗系統泵浦激光原理實驗系統型號：TP-XGL-2

TP-XGL-2型半導體泵浦激光原理實驗系統采用波長為808nm的半導體泵浦源，激光晶體

為ND:YVO₄以及KTP倍頻晶體等，構成整個實驗系統。主要適用于大學近代物理教學，學生可以自己動手，通過調整激光器光路，觀察倍頻現象，并測量倍頻效率、相位匹配角等參數，從而步了解和掌握激光原理及激光。

成套性：
光學導軌、二維調整架、四維調整架；
泵浦光源：808nm半導體激光器
示光源：He-Ne激光器
晶體：ND:YVO4以及KTP
輸出鏡激光率計

可開實驗：

半導體激光（LD）與LD泵浦固體激光器的原理與區別

激光閥值、激光斜率的測量

激光倍頻原理和實驗

激光發散角測量

激光器光斑尺寸的測量

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